查人人中国名人网澳洲上市 骗局:硬盘振动测量中采用两束光的线的原因///问题 2：请建数学模型分析盘片局部表面方程的测量原理
来源：百度文库 编辑：查人人中国名人网 时间：2024/04/30 14:35:08
硬盘是计算机上的重要部件，正向着更小、更快、密度更高的方向发展。如何减小盘片的振动，成为关键问题，于是怎样检测盘片的振动更加重要。由于硬盘转速很高，不适宜接触式测量，容易想到光学测量。
有一种新技术测量物体表面获得振动情况，是利用类似镜面反射的几何光学原理工作的：选用同一点光源发出两束光线，照射有反射能力的被测物体平面，产生的两条反射光线再照射到水平放置的接受屏上。接受屏能够检测出光线照射点在接受屏平面上的坐标位置，问题是怎样利用图2中O'x'y'平面的两个坐标值反算出被测物体当前的平面方程，就可利用平面方程的变化得到振动情况。
图1是用两条光线检测的原理图，点光源O为坐标原点，E1和E2是盘片瞬间位置的反射点，此时盘片局部表面方程为z=ax+by+(c+D)，其中a,b,c为未知量，由于硬盘在振动，平面就偏离了初始位置z=D(D<0)；接受屏方程为z=h，其中h>0为接受屏的高度，B1和B2是其上的照射点，这样利用它们确定、和获得盘片局部表面方程。
（本题作到确定出、和即可，不必分析振动情况）
问题 1：请解释这种测量技术采用两束光线的原因。
问题 2：请建数学模型分析盘片局部表面方程的测量原理。
问题 3：试分析接受屏分辨率（测量精度）对盘片局部表面方程的影响。
有一种新技术测量物体表面获得振动情况，是利用类似镜面反射的几何光学原理工作的：选用同一点光源发出两束光线，照射有反射能力的被测物体平面，产生的两条反射光线再照射到水平放置的接受屏上。接受屏能够检测出光线照射点在接受屏平面上的坐标位置，问题是怎样利用图2中O'x'y'平面的两个坐标值反算出被测物体当前的平面方程，就可利用平面方程的变化得到振动情况。
图1是用两条光线检测的原理图，点光源O为坐标原点，E1和E2是盘片瞬间位置的反射点，此时盘片局部表面方程为z=ax+by+(c+D)，其中a,b,c为未知量，由于硬盘在振动，平面就偏离了初始位置z=D(D<0)；接受屏方程为z=h，其中h>0为接受屏的高度，B1和B2是其上的照射点，这样利用它们确定、和获得盘片局部表面方程。
（本题作到确定出、和即可，不必分析振动情况）
问题 1：请解释这种测量技术采用两束光线的原因。
问题 2：请建数学模型分析盘片局部表面方程的测量原理。
问题 3：试分析接受屏分辨率（测量精度）对盘片局部表面方程的影响。
这种测量技术采用两束光线的原因