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在高速光学网路/全光化网路趋势的推动下，传输距离越来越远。除了传统电的节点逐渐减少，存在传统电的节点的电网路性能监测器也随著逐渐消除。因此，一个既可以存在全光化网路，又可以执行电网路性能监测器的方法就必须被发展出来。而且，当全光网路来临及传输速率增加至兆位元/每秒时，我们所需的监视模组不仅是效能监视更须兼具光纤网路管理控制功能，以提高光纤网路整体效能。有效地光纤网路性能监视与管理控制必定成为未来光连结层中极为重要的课题。光讯号在通道中传输，有相当多的因数会影响其资料的传送品质，因此必须建立一套良好的性能监视系统，如此才能有效地管理光纤网路及提升效能。再者，由於分波多工（Wavelength Division Multiplexing, WDM）网路的普及，因此通道与通道间隔变小，光讯号的品质将会对系统效能造成极重要的影响；因此如何有效率的测试与控制光讯号的效能或通道是否符合ITU标准，已成为目前新研究趋势。光讯号性能监控正是可以解决这一连串的问题，而且光讯号性能监控也将伴随著快速的光网路演进而不断发展，以提供最低维修成本及最佳的系统稳定性。利用光通道监控系统评估其通讯品质，并且由处理器处理分析光纤网路的传输品质及经由光监视通道（Optical Supervisory Channel）提供所需管理控制讯号给其他节点进行有效地管理配置光传输通道，将是未来提升光网路发展的重点技术。

技术简介(英文)：
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技术规格：
1,光功率监测 2,光坡道辨识 3,光波长漂移监测 4,光讯杂比监测

技术规格(英文)：
1,Optical Power Monitor 2,Optical Channel Recognition 3,Optical Wavelength Drifting Monitor 4,Optical Signal to Noise Ration Ratio Monitor

技术特色：
在此开发设计之”光通道监控技术”有别於现今国外所提出的方式之主要不同点有：快速准确的 “光功率”、”波长飘移量”、以及”OSNR”等性能参数同时监控量测能力， 再搭配”可调式光滤波器” 可使得此项监控技术具有多通道效能监控之功能，并且具有”控温条件宽松”及”系统体积小”有利於模组积体化等特点。

技术竞争力：
所开发之技术，可重复利用光元件来量测多项光通道性能参数。具有体积小、容易积体化、低成本的优势。适合应用在光网路上各种通道性能监视系统，也可以开发成独立的光通道测试设备，未来的经济效益可期。而且，此多功能光性能监视模组，可以广泛地应用於光通讯系统相关主被动光学元件之生产测试，协助国内光通讯元件厂商提升光元件检测的品质指标。开发新式之光通道监控的技术正申请多项专利，藉此突破国际大厂在此项技术所立下之专利障碍，并可配合”光积体化技术”以建立高性能，低成本之光纤网路关键模组技术。未来并可进行技术转移予国内通讯系统与元件厂商，提高厂商技术自主性，使之更具技术竞争力。

技术发展与突破之重点：
量测OSNR方面光杂讯一般是在两个相邻通道的中间点位置量测。目前技术的困难点在於一般光滤波器量测光杂讯时，拒斥两旁通道干扰(Out-of-Band Rejection)的能力不足，容易将两旁的通道讯号一起量测进来，而高估光杂讯，影响OSNR量测范围。一般OPM模组所使用的滤波器Out-of-Band Rejection只有30~40dB，这并无法有效拒斥相邻通道的干扰。而OPM仪器，如Agilent公司的光频谱分析仪，分别使用一个宽频及一个窄频的光滤波器进行双重扫描(Dual Sweep)量测OSNR。虽然仪器型均具有精准的量测特性（Out-of-Band Rejection约60dB），但有价格非常昂贵、体积较大，控制机制复杂等缺点。我们的目标为设计出一低成本适合商业化模组的架构，并且具有良好的Out-of-Band Rejection能力，可以量测精准的光杂讯功率。我们的构想是将欲量测的光杂讯通过单一个光滤波器两趟，藉此提升Out-of-Band Rejection的能力，来有效抑制相邻通道的干扰。而光讯号只通过光滤波器一次。单趟滤波有较宽的滤波频谱，适合量测各种速率的光讯号功率，而双趟滤波有较窄的滤波频谱，可以有较好的Out-of-Band Rejection能力，可以拒斥两旁通道的干扰，来精确的量测光杂讯功率。

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